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基于TSV的三维堆叠集成电路的可测设计与测试优化技术[美]布兰登·戴(Brandon Noia)[美]蔡润波(Krishnendu Chakrabarty )
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75.2元¥80.2预计返¥ 0.365元券
活动结束时间:11-17 23:59 累计销量 :

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